g. gentl / observatoryCzech public procurement
From public records to matchable facts

Procurement observatory.

Explore opportunities, document readiness, and the qualification facts we can later score against company knowledge.

Live database · read only

Document text

Originals stay with the publisher. We store extracted text, pages and tables in the database. New IT procedure links are queued when a source stores them and the full catalog is reconciled hourly; a few due documents are processed every five minutes, and known documents are checked daily, subject to that queue. Source document lists follow each source’s refresh cadence.

Text is a parsing result. Typed qualification facts appear when a specification or qualification file can be read; they are not a bid recommendation. Failed updates retain the last successful text. Most ISVZ links fail as HTML pages, not files.

46,661 · pending1 · processing4,151 · ready1,810 · failed
Reset

52623 documents

DocumentStatusTextLast checkedNext check due
8) Rozhodnuti o vyberu dodavatele_30_2026_signed (1).pdf
zakazky.upol.cz
readyAvailable12 Nov 2026, 21:3513 Nov 2026, 21:35
VZMR_Rozhodnutí a oznámení o výběru_antivir licence_signed.pdf
zakazky.upol.cz
readyAvailable12 Nov 2026, 21:3213 Nov 2026, 21:32
zadávací dokumentace
zakazky.upol.cz
readyAvailable12 Nov 2026, 13:1013 Nov 2026, 13:10
zadávací dokumentace
zakazky.upol.cz
readyAvailable12 Nov 2026, 13:1013 Nov 2026, 13:10
zadávací dokumentace
zakazky.upol.cz
readyAvailable12 Nov 2026, 13:1013 Nov 2026, 13:10
zadávací dokumentace
zakazky.upol.cz
readyAvailable12 Nov 2026, 13:0513 Nov 2026, 13:05
8) Rozhodnuti o vyberu dodavatele_29_2026_signed (1).pdf
zakazky.upol.cz
readyAvailable12 Nov 2026, 21:3113 Nov 2026, 21:31
8) Rozhodnuti o vyberu dodavatele_28_2026_signed (1).pdf
zakazky.upol.cz
readyAvailable12 Nov 2026, 21:3113 Nov 2026, 21:31
zadávací dokumentace
zakazky.upol.cz
readyAvailable12 Nov 2026, 13:0513 Nov 2026, 13:05
zadávací dokumentace
zakazky.upol.cz
readyAvailable12 Nov 2026, 13:0513 Nov 2026, 13:05
zadávací dokumentace
zakazky.upol.cz
readyAvailable12 Nov 2026, 13:0513 Nov 2026, 13:05
zadávací dokumentace
zakazky.upol.cz
readyAvailable12 Nov 2026, 13:0513 Nov 2026, 13:05
zadávací dokumentace
zakazky.upol.cz
readyAvailable12 Nov 2026, 13:0013 Nov 2026, 13:00
zadávací dokumentace
zakazky.upol.cz
readyAvailable12 Nov 2026, 12:5513 Nov 2026, 12:55
zadávací dokumentace
zakazky.upol.cz
readyAvailable12 Nov 2026, 12:5513 Nov 2026, 12:55
zadávací dokumentace
zakazky.upol.cz
readyAvailable12 Nov 2026, 12:5513 Nov 2026, 12:55
8) Rozhodnuti a oznameni o vyberu dodavatele_27_2026_signed.pdf
zakazky.upol.cz
readyAvailable12 Nov 2026, 21:2513 Nov 2026, 21:25
8) Rozhodnuti o vyberu dodavatele_26_2026_signed (1).pdf
zakazky.upol.cz
readyAvailable12 Nov 2026, 21:2513 Nov 2026, 21:25
zadávací dokumentace
zakazky.upol.cz
readyAvailable12 Nov 2026, 12:5513 Nov 2026, 12:55
zadávací dokumentace
zakazky.upol.cz
readyAvailable12 Nov 2026, 12:5513 Nov 2026, 12:55
zadávací dokumentace
zakazky.upol.cz
readyAvailable12 Nov 2026, 12:5513 Nov 2026, 12:55
zadávací dokumentace
zakazky.upol.cz
readyAvailable12 Nov 2026, 12:5013 Nov 2026, 12:50
zadávací dokumentace
zakazky.upol.cz
readyAvailable12 Nov 2026, 12:5013 Nov 2026, 12:50
zadávací dokumentace
zakazky.upol.cz
readyAvailable12 Nov 2026, 12:5013 Nov 2026, 12:50
zadávací dokumentace
zakazky.upol.cz
readyAvailable12 Nov 2026, 12:5013 Nov 2026, 12:50
zadávací dokumentace
zakazky.upol.cz
readyAvailable12 Nov 2026, 12:5013 Nov 2026, 12:50
9) PC_DNS_25_2026_Oznámení o výběru_signed.pdf
zakazky.upol.cz
readyAvailable12 Nov 2026, 21:2513 Nov 2026, 21:25
zadávací dokumentace
zakazky.upol.cz
readyAvailable12 Nov 2026, 12:4513 Nov 2026, 12:45
zadávací dokumentace
zakazky.upol.cz
readyAvailable12 Nov 2026, 12:4513 Nov 2026, 12:45
zadávací dokumentace
zakazky.upol.cz
readyAvailable12 Nov 2026, 12:4513 Nov 2026, 12:45

zadávací dokumentace

Original at publisher ↗

Status: ready · Role: specification · Fetched: 12 Nov 2026, 13:10 · Extracted: 5 Nov 2026, 02:45

cz.profile.xml · UPOL/PřF/KEF - Zařízení pro mikro-rentgenovou fluorescenční analýzu (μXRF) ↗

SHA-256: 5e5b59083af35b3a59c7c5e4146bafae75de323dc21cb95b9cfa83d8440c58fd
Parser: xberg-1.0.14:markdown-pages-tables-ces-eng-v1

Extracted text · 9,517 characters
<!-- PAGE 1 -->

| Technická specifikace |
| --- |
| veřejné zakázky s názvem |
|  |
| „UPOL/PřF/KEF - Zařízení pro mikro-rentgenovou fluorescenční analýzu (µXRF)“ |
|  |
|  |
|  |

Popis předmětu Veřejné zakázky

# Obecná koncepce zařízení:

- Zařízení musí být stolní, plně radiačně stíněný mikro-XRF spektrometr s uzavřenou měřicí komorou, motoricky řízeným XYZ stolkem, rentgenovou mikrosondou s poly kapilární optikou a polovodičovým SDD detekčním systémem.
- Zařízení musí být určeno pro vysoce citlivou, nedestruktivní prvkovou analýzu s minimální nebo žádnou přípravou vzorků. Musí být vhodné pro inhomogenní i nepravidelně tvarované vzorky. 

# Rentgenová excitace:

- Zařízení musí být vybaveno minimálně dvěma rentgenovým zdroji.
- Rentgenová trubice s rhodiem jako anodovým materiálem a s polykapilární rentgenovou optikou pro fokusaci záření do mikrospotu:

- Napětí minimálně 50 kV.
- Výkon rentgenové trubice minimálně 30 W.
- Poly kapilární optika pro mikrospot.
- Průměr excitačního svazku nejvýše 20 µm pro Mo Kα nebo srovnatelnou energii.
- Sada primárních filtrů minimálně 5 ks.
- Softwarově řízené nastavení napětí, proudu, filtrů a měřicích parametrů.
- Sada minimálně dvou apertur pro omezení svazku.

- Materiál anody druhého rentgenového zdroje:

- wolfram s napětím minimálně 50 kV.
- Výkon rentgenové trubice minimálně 40 W.
- Systém s možností volby alespoň čtyř velikostí svazku, v rozsahu 0,5 mm až 4,5 mm.
- Automatický minimálně čtyřpolohový měnič kolimátorů.

# Detekční systém:

- Zařízení musí být vybaveno polovodičovým SDD detekčním systémem.
- SDD detektor/y se souhrnou aktivní plochou minimálně 120 mm².
- Možnost současného použití dvou detektorů nebo dvou paralelních spektrometrických kanálů.
- Energetické rozlišení lepší nebo rovno 145 eV na Mn Kα při vstupní četnosti 300 000 cps na detektor.
- Při dvoudetektorové konfiguraci minimální výstupní četnost alespoň 550 kcps nebo ekvivalentní propustnost systému.
- Detekce prvků minimálně v rozsahu C-Am.

# Detekce lehkých a velmi lehkých prvků:

- Zařízení musí umožňovat analýzu lehkých prvků minimálně od C.
- Detekce a analýza prvků minimálně od C do Am.
- SDD detektory s okénkem optimalizovaným pro velmi lehké prvky.
- Rentgenová trubice optimalizovaná pro nízkoenergetickou excitaci.
- Měření ve vakuu a v heliové atmosféře.
- Programovatelný proplach He pro vzorky citlivé na vakuum.

# Měřicí atmosféra:

- Zařízení musí umožňovat měření ve vzduchu, v regulovaném vakuu a v heliové atmosféře pro citlivé vzorky a analýzu lehkých prvků.
- Olejově bezkontaminační vakuový systém.
- Zařízení umožňuje programovatelnou regulaci tlaku v rozsahu min. od 2 mbar do barometrického tlaku podle typu vzorku pomocí dodaného ovládacího softwaru zařízení s krokem min. po 1 mbar s tím, že během měření systém udržuje nastavenou hladinu tlaku.
- Měření vzorků citlivých na přípravu bez nutnosti pokovení nebo uhlíkování. 

# Měřicí komora a vzorkový prostor:

- Zařízení musí disponovat dostatečně velkou měřicí komorou pro velké a nepravidelně tvarované vzorky.
- Rozměr měřicí komory minimálně 600 × 350 × 260 mm.
- Motorický XYZ stolek.
- Pracovní plocha stolku minimálně 330 × 170 mm.
- Nosnost stolku minimálně 5 kg.
- Maximální dráha pohybu minimálně 200 × 160 × 100 mm.
- Mapovací rozsah minimálně 190 × 160 mm.

# Motorický stolek a mapování:

- Zařízení musí být vybaveno rychlým, přesným motorickým XYZ stolkem pro plošné mapování.
- Maximální rychlost pohybu stolku 100 mm/s nebo větší.
- Režim mapování „on-the-fly“.
- Automatické mapování plochy.
- Vícesnímkové měření pro zvýšení statistiky.
- Tvorba mozaikových obrazů vzorku.
- Opakovatelná navigace k měřeným bodům.
- Opakovatelnost pohybu stolku 2 µm nebo lepší.

# Optická navigace a zobrazování vzorku:

- Zařízení musí umožňovat optickou navigaci, zaostření a výběr měřicích oblastí.
- Minimálně dva simultánní živé optické obrazy z horního pohledu při různých zvětšeních.
- Přehledová kamera měřicí komory.
- Přesné polohování vzorku pod rentgenový svazek.
- Softwarové kliknutí na obraz vzorku pro pohyb stolku nebo výběr místa měření.
- Automatické nebo poloautomatické zaostření.
- Tvorba mozaikových obrazů pro velkoplošné mapy. 

# Analýza topografických vzorků:

- Zařízení musí být schopno analyzovat nerovinné, hrubé nebo topograficky členité vzorky bez nutnosti rozsáhlé přípravy.
- Musí obsahovat systém pro zvýšení hloubky ostrosti rentgenové polykapilární optiky.
- Zachování prostorového rozlišení při změnách výšky povrchu vzorku.
- Schopnost mapování vzorků s výškovou variací minimálně ±4 mm s velikostí měřeného spotu ≤100 µm.
- Vhodnost pro geologické vzorky, elektroniku, forenzní vzorky a nepravidelné materiály.

# Softwarové vybavení pro prvkovou analýzu:

- Součástí dodávky musí být kompletní software pro řízení přístroje, akvizici a vyhodnocení dat.
- Řízení rentgenové trubice, filtrů, optických mikroskopů, osvětlení a polohování vzorku.
- Bodová analýza.
- Liniová analýza.
- Plošné mapování.
- Záznam kompletního spektra v každém bodě mapy.
- Datová krychle pro offline vyhodnocení.
- Identifikace píků.
- Korekce pozadí.
- Korekce artefaktů.
- Výpočet ploch píků.
- Standardless kvantifikace.
- Standardová kvantifikace.
- Export výsledků, map, tabulek a grafů.

# Kvantifikace:

- Software musí umožňovat kvantitativní vyhodnocení prvkového složení.
- Standardless kvantifikace na bázi fundamentálních parametrů.
- Standardová kalibrace.
- Korekce matrix efektů.
- Jednobodová kalibrace pro zlepšení přesnosti.
- Výstup kvantifikace ve formě tabulek a exportovatelných dat.

# Mineralogická a fázová analýza:

- Pro aplikace v geologii, mineralogii a materiálových vědách musí být součástí nabídky software pro mineralogickou a fázovou analýzu.
- Požadované funkce:

- automatická identifikace minerálů nebo syntetických fází na základě XRF spekter;
- mineralogická databáze;
- správa a rozšiřování databáze minerálních standardů;
- klasifikace minerálů v každém pixelu mapy;
- výpočet modální mineralogie;
- výpočet mineralogické distribuce;
- výpočet odhadovaného chemického assay;
- particle grid / tabulkování částic nebo zrn;
- filtrování zobrazení podle minerální fáze;
- přidávání spekter neznámých fází do databáze;
- zobrazení výsledků jako minerální mapa, tabulky, grafy a exportovatelné reporty;
- offline zpracování dat na pracovních stanicích (počítačích) Zadavatele.

# Práce s velkými mapami a datovými soubory:

- Zařízení a software musí být schopny zpracovávat rozsáhlé mapovací datové soubory.
- Mapování velkých ploch minimálně 190 × 160 mm.
- Práce s mapami o statisících pixelů.
- Opakované zpracování dat bez nutnosti nového měření.
- Uložení spekter, obrazových dat a výsledků klasifikace.
- Export map, tabulek a grafů. 

# Analýza bez speciální přípravy vzorku:

- Zařízení musí umožňovat analýzu vzorků s minimální nebo žádnou přípravou, zejména řezaných horninových vzorků, vrtných jader, tenkých výbrusů, nepravidelných kusových vzorků, fosilií, elektronických součástek a materiálů citlivých na pokovení, uhlíkování nebo vakuum.

# Držáky vzorků a výměna vzorků:

- Předdefinované polohy pro vložení a vyjmutí vzorku.
- Výměnný vzorkový stolek.
- Fixace nepravidelných vzorků.
- Funkce zachování stejné měřicí roviny při měření více vzorků. 

Systém pro udržení heliové atmosféry:

- Proplach heliem.
- Umožňuje naplnění celé komory heliem pro stabilní podmínky při mapování.
- Softwarově řízené režimy proplachu.
- Kompatibilita s analýzou lehkých prvků při atmosférickém nebo blízkém atmosférickém tlaku.

# Analýza difrakčních jevů a krystalových domén:

- Zařízení musí umožňovat uchování kompletních spekter z mapování tak, aby bylo možné zpětně analyzovat nejen fluorescenční čáry, ale i případné difrakční píky a jejich prostorové rozložení.
- Zobrazení ROI map pro libovolně definované energetické oblasti.
- Vyhodnocení difrakčních píků.
- Mapování krystalových domén nebo změn orientace krystalů pomocí energeticky disperzního Laue mapování.
- Umožňuje rozlišit, zda intenzitní maxima v ROI odpovídají chemické distribuci nebo difrakčnímu artefaktu. 

# Výpočetní systém:

- Součástí dodávky musí být řídicí a vyhodnocovací pracovní stanice vhodná pro ovládání přístroje.
- Operační systém Windows nebo ekvivalentní systém podporovaný výrobcem.
- Dostatečný výkon pro akvizici a zpracování velkých mapovacích dat.
- Dva monitory (úhlopříčka min. 24”) vhodné pro práci s mapami a spektry.
- Software pro řízení přístroje, vyhodnocení a export dat.
- Umožňuje offline zpracování dat na pracovních stanicích (počítačích) Zadavatele. 

# Výstupy a export dat:

- Software musí umožňovat export minimálně těchto výstupů:

- spektra z bodů, linií, objektů a oblastí;
- prvkové mapy;
- vícesložkové false-color mapy;
- liniové profily;
- kvantifikační tabulky;
- statistické vyhodnocení;
- reporty ve formátech vhodných pro další zpracování;
- u mineralogického modulu minerální mapy, particle grid, modální mineralogii, calculated assay, grafy a tabulky. 

# Bezpečnost a legislativní požadavky:

- Zařízení musí splňovat požadavky pro bezpečný provoz rentgenového zařízení v laboratorním prostředí.
- Plně radiačně stíněný systém.
- Bezpečnostní blokace dveří komory.
- Nouzové zastavení.
- Dokumentace k radiační bezpečnosti.

# Napájení, rozměry a instalace:

- Napájení 100-240 V, 50/60 Hz.
- Provoz ze standardní jednofázové laboratorní sítě.
- Maximální příkon odpovídající stolnímu laboratornímu zařízení.
- Rozměry přístroje do 1000 × 800 × 700 mm.
- Hmotnost přístroje do 500 kg.
Document · 5 pages · 1 tables

Page 1

| Technická specifikace                                                                    |
| ---------------------------------------------------------------------------------------- |
| veřejné zakázky s názvem                                                                 |
|                                                                                          |
| „UPOL/PřF/KEF - Zařízení pro mikro-rentgenovou fluorescenční analýzu (µXRF)“             |
|                                                                                          |
|                                                                                          |
|                                                                                          |

Popis předmětu Veřejné zakázky

# Obecná koncepce zařízení:

- Zařízení musí být stolní, plně radiačně stíněný mikro-XRF spektrometr s uzavřenou měřicí komorou, motoricky řízeným XYZ stolkem, rentgenovou mikrosondou s poly kapilární optikou a polovodičovým SDD detekčním systémem.
- Zařízení musí být určeno pro vysoce citlivou, nedestruktivní prvkovou analýzu s minimální nebo žádnou přípravou vzorků. Musí být vhodné pro inhomogenní i nepravidelně tvarované vzorky. 

# Rentgenová excitace:

- Zařízení musí být vybaveno minimálně dvěma rentgenovým zdroji.
- Rentgenová trubice s rhodiem jako anodovým materiálem a s polykapilární rentgenovou optikou pro fokusaci záření do mikrospotu:
- Napětí minimálně 50 kV.
- Výkon rentgenové trubice minimálně 30 W.
- Poly kapilární optika pro mikrospot.
- Průměr excitačního svazku nejvýše 20 µm pro Mo Kα nebo srovnatelnou energii.
- Sada primárních filtrů minimálně 5 ks.
- Softwarově řízené nastavení napětí, proudu, filtrů a měřicích parametrů.
- Sada minimálně dvou apertur pro omezení svazku.
- Materiál anody druhého rentgenového zdroje:
- wolfram s napětím minimálně 50 kV.
- Výkon rentgenové trubice minimálně 40 W.
- Systém s možností volby alespoň čtyř velikostí svazku, v rozsahu 0,5 mm až 4,5 mm.
- Automatický minimálně čtyřpolohový měnič kolimátorů.

# Detekční systém:

- Zařízení musí být vybaveno polovodičovým SDD detekčním systémem.
- SDD detektor/y se souhrnou aktivní plochou minimálně 120 mm².
- Možnost současného použití dvou detektorů nebo dvou paralelních spektrometrických kanálů.

Page 2

- Energetické rozlišení lepší nebo rovno 145 eV na Mn Kα při vstupní četnosti 300 000 cps na detektor.
- Při dvoudetektorové konfiguraci minimální výstupní četnost alespoň 550 kcps nebo ekvivalentní propustnost systému.
- Detekce prvků minimálně v rozsahu C-Am.

# Detekce lehkých a velmi lehkých prvků:

- Zařízení musí umožňovat analýzu lehkých prvků minimálně od C.
- Detekce a analýza prvků minimálně od C do Am.
- SDD detektory s okénkem optimalizovaným pro velmi lehké prvky.
- Rentgenová trubice optimalizovaná pro nízkoenergetickou excitaci.
- Měření ve vakuu a v heliové atmosféře.
- Programovatelný proplach He pro vzorky citlivé na vakuum.

# Měřicí atmosféra:

- Zařízení musí umožňovat měření ve vzduchu, v regulovaném vakuu a v heliové atmosféře pro citlivé vzorky a analýzu lehkých prvků.
- Olejově bezkontaminační vakuový systém.
- Zařízení umožňuje programovatelnou regulaci tlaku v rozsahu min. od 2 mbar do barometrického tlaku podle typu vzorku pomocí dodaného ovládacího softwaru zařízení s krokem min. po 1 mbar s tím, že během měření systém udržuje nastavenou hladinu tlaku.
- Měření vzorků citlivých na přípravu bez nutnosti pokovení nebo uhlíkování. 

# Měřicí komora a vzorkový prostor:

- Zařízení musí disponovat dostatečně velkou měřicí komorou pro velké a nepravidelně tvarované vzorky.
- Rozměr měřicí komory minimálně 600 × 350 × 260 mm.
- Motorický XYZ stolek.
- Pracovní plocha stolku minimálně 330 × 170 mm.
- Nosnost stolku minimálně 5 kg.
- Maximální dráha pohybu minimálně 200 × 160 × 100 mm.
- Mapovací rozsah minimálně 190 × 160 mm.

# Motorický stolek a mapování:

- Zařízení musí být vybaveno rychlým, přesným motorickým XYZ stolkem pro plošné mapování.
- Maximální rychlost pohybu stolku 100 mm/s nebo větší.
- Režim mapování „on-the-fly“.
- Automatické mapování plochy.
- Vícesnímkové měření pro zvýšení statistiky.
- Tvorba mozaikových obrazů vzorku.
- Opakovatelná navigace k měřeným bodům.
- Opakovatelnost pohybu stolku 2 µm nebo lepší.

# Optická navigace a zobrazování vzorku:

- Zařízení musí umožňovat optickou navigaci, zaostření a výběr měřicích oblastí.
- Minimálně dva simultánní živé optické obrazy z horního pohledu při různých zvětšeních.
- Přehledová kamera měřicí komory.
- Přesné polohování vzorku pod rentgenový svazek.
- Softwarové kliknutí na obraz vzorku pro pohyb stolku nebo výběr místa měření.
- Automatické nebo poloautomatické zaostření.
- Tvorba mozaikových obrazů pro velkoplošné mapy.

Page 3

# Analýza topografických vzorků:

- Zařízení musí být schopno analyzovat nerovinné, hrubé nebo topograficky členité vzorky bez nutnosti rozsáhlé přípravy.
- Musí obsahovat systém pro zvýšení hloubky ostrosti rentgenové polykapilární optiky.
- Zachování prostorového rozlišení při změnách výšky povrchu vzorku.
- Schopnost mapování vzorků s výškovou variací minimálně ±4 mm s velikostí měřeného spotu ≤100 µm.
- Vhodnost pro geologické vzorky, elektroniku, forenzní vzorky a nepravidelné materiály.

# Softwarové vybavení pro prvkovou analýzu:

- Součástí dodávky musí být kompletní software pro řízení přístroje, akvizici a vyhodnocení dat.
- Řízení rentgenové trubice, filtrů, optických mikroskopů, osvětlení a polohování vzorku.
- Bodová analýza.
- Liniová analýza.
- Plošné mapování.
- Záznam kompletního spektra v každém bodě mapy.
- Datová krychle pro offline vyhodnocení.
- Identifikace píků.
- Korekce pozadí.
- Korekce artefaktů.
- Výpočet ploch píků.
- Standardless kvantifikace.
- Standardová kvantifikace.
- Export výsledků, map, tabulek a grafů.

# Kvantifikace:

- Software musí umožňovat kvantitativní vyhodnocení prvkového složení.
- Standardless kvantifikace na bázi fundamentálních parametrů.
- Standardová kalibrace.
- Korekce matrix efektů.
- Jednobodová kalibrace pro zlepšení přesnosti.
- Výstup kvantifikace ve formě tabulek a exportovatelných dat.

# Mineralogická a fázová analýza:

- Pro aplikace v geologii, mineralogii a materiálových vědách musí být součástí nabídky software pro mineralogickou a fázovou analýzu.
- Požadované funkce:
- automatická identifikace minerálů nebo syntetických fází na základě XRF spekter;
- mineralogická databáze;
- správa a rozšiřování databáze minerálních standardů;
- klasifikace minerálů v každém pixelu mapy;
- výpočet modální mineralogie;
- výpočet mineralogické distribuce;
- výpočet odhadovaného chemického assay;
- particle grid / tabulkování částic nebo zrn;
- filtrování zobrazení podle minerální fáze;
- přidávání spekter neznámých fází do databáze;
- zobrazení výsledků jako minerální mapa, tabulky, grafy a exportovatelné reporty;
- offline zpracování dat na pracovních stanicích (počítačích) Zadavatele.

# Práce s velkými mapami a datovými soubory:

- Zařízení a software musí být schopny zpracovávat rozsáhlé mapovací datové soubory.

Page 4

- Mapování velkých ploch minimálně 190 × 160 mm.
- Práce s mapami o statisících pixelů.
- Opakované zpracování dat bez nutnosti nového měření.
- Uložení spekter, obrazových dat a výsledků klasifikace.
- Export map, tabulek a grafů. 

# Analýza bez speciální přípravy vzorku:

- Zařízení musí umožňovat analýzu vzorků s minimální nebo žádnou přípravou, zejména řezaných horninových vzorků, vrtných jader, tenkých výbrusů, nepravidelných kusových vzorků, fosilií, elektronických součástek a materiálů citlivých na pokovení, uhlíkování nebo vakuum.

# Držáky vzorků a výměna vzorků:

- Předdefinované polohy pro vložení a vyjmutí vzorku.
- Výměnný vzorkový stolek.
- Fixace nepravidelných vzorků.
- Funkce zachování stejné měřicí roviny při měření více vzorků. 

Systém pro udržení heliové atmosféry:

- Proplach heliem.
- Umožňuje naplnění celé komory heliem pro stabilní podmínky při mapování.
- Softwarově řízené režimy proplachu.
- Kompatibilita s analýzou lehkých prvků při atmosférickém nebo blízkém atmosférickém tlaku.

# Analýza difrakčních jevů a krystalových domén:

- Zařízení musí umožňovat uchování kompletních spekter z mapování tak, aby bylo možné zpětně analyzovat nejen fluorescenční čáry, ale i případné difrakční píky a jejich prostorové rozložení.
- Zobrazení ROI map pro libovolně definované energetické oblasti.
- Vyhodnocení difrakčních píků.
- Mapování krystalových domén nebo změn orientace krystalů pomocí energeticky disperzního Laue mapování.
- Umožňuje rozlišit, zda intenzitní maxima v ROI odpovídají chemické distribuci nebo difrakčnímu artefaktu. 

# Výpočetní systém:

- Součástí dodávky musí být řídicí a vyhodnocovací pracovní stanice vhodná pro ovládání přístroje.
- Operační systém Windows nebo ekvivalentní systém podporovaný výrobcem.
- Dostatečný výkon pro akvizici a zpracování velkých mapovacích dat.
- Dva monitory (úhlopříčka min. 24”) vhodné pro práci s mapami a spektry.
- Software pro řízení přístroje, vyhodnocení a export dat.
- Umožňuje offline zpracování dat na pracovních stanicích (počítačích) Zadavatele. 

# Výstupy a export dat:

- Software musí umožňovat export minimálně těchto výstupů:
- spektra z bodů, linií, objektů a oblastí;
- prvkové mapy;
- vícesložkové false-color mapy;
- liniové profily;
- kvantifikační tabulky;
- statistické vyhodnocení;
- reporty ve formátech vhodných pro další zpracování;
- u mineralogického modulu minerální mapy, particle grid, modální mineralogii, calculated assay, grafy a tabulky.

Page 5

# Bezpečnost a legislativní požadavky:

- Zařízení musí splňovat požadavky pro bezpečný provoz rentgenového zařízení v laboratorním prostředí.
- Plně radiačně stíněný systém.
- Bezpečnostní blokace dveří komory.
- Nouzové zastavení.
- Dokumentace k radiační bezpečnosti.

# Napájení, rozměry a instalace:

- Napájení 100-240 V, 50/60 Hz.
- Provoz ze standardní jednofázové laboratorní sítě.
- Maximální příkon odpovídající stolnímu laboratornímu zařízení.
- Rozměry přístroje do 1000 × 800 × 700 mm.
- Hmotnost přístroje do 500 kg.
Technická specifikace
veřejné zakázky s názvem
„UPOL/PřF/KEF - Zařízení pro mikro-rentgenovou fluorescenční analýzu (µXRF)“